GB/T 12636-1990 微波介质基片复介电常数带状线测试方法
标准编号：GB/T 12636-1990
标准名称：微波介质基片复介电常数带状线测试方法
英文名称：Stripline test method for complexpermittivity of microwave dielectric substrates
中国标准分类号（CCS）
L04
国际标准分类号（ICS）
发布日期
1990-12-28
实施日期
1991-10-01
归口单位
工业和信息化部（电子）
执行单位
工业和信息化部（电子）
主管部门
工业和信息化部（电子）
起草人
起草单位
电子科技大学
适应范围
本标准规定了微波介质基片复介电常数的带状线测试方法。 本标准适用于测试各种基片（如塑料、复合材料、陶瓷、硅酸盐和其他单晶体材料等）在微波频率下的复介电常数。 测试频率范围：f=1～20GHz 测试介电常数范围：ε＇＝2～25 测试损耗角正切范围：tanδ<下标e>＝5×10<上标-4>～1×10<上标-2>