GB/T 17473.3-2008 微电子技术用贵金属浆料测试方法 方阻测定
标准编号：GB/T 17473.3-2008
标准名称：微电子技术用贵金属浆料测试方法 方阻测定
英文名称：Test methods of precious metals pastes used for microelectronics Determination of sheet resistance
中国标准分类号（CCS）
H68
国际标准分类号（ICS）
77.120.99
发布日期
2008-03-31
实施日期
2008-09-01
归口单位
全国有色金属标准化技术委员会
执行单位
全国有色金属标准化技术委员会
主管部门
中国有色金属工业协会
起草人
金勿毁、刘继松、李文琳
起草单位
贵研铂业股份有限公司
适应范围
本部分规定了微电子技术用贵金属浆料方阻的测试方法。本部分适用于微电子技术用贵金属浆料方阻的测定。