SJ/T 2658.4-2015 半导体红外发射二极管测量方法第4部分：总电容

标准编号：SJ/T 2658.4-2015

标准名称：半导体红外发射二极管测量方法第4部分：总电容

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中国标准分类号（CCS）

L53

国际标准分类号（ICS）

31.080

发布日期

2015-10-10

实施日期

2016-04-01

提出单位

归口单位

工业和信息化部电子工业标准化研究院

主管部门

工业和信息化部

行业领域

电子

行业分类

无

起草人

张戈、赵英

起草单位

工业和信息化部电子工业标准化研究院

适应范围

本部分规定了半导体红外发射二极管总电容的测量原理图、测量步骤以及规定条件。