T/CASAS 030-2023 GaN毫米波前端芯片测试方法
标准编号：T/CASAS 030-2023
标准名称：GaN毫米波前端芯片测试方法
英文名称：Measurement methods on GaN millimeter Wave front-end MMIC
中国标准分类号（CCS）
L40/49
国际标准分类号（ICS）
31.080.01
发布日期
2023-06-30
实施日期
2023-07-01
团体名称
北京第三代半导体产业技术创新战略联盟
起草人
周强、龚健伟、余旭明、刘建利、王茂俊、徐瑞鹏
起草单位
中国电子科技集团第五十五研究所、中兴通讯股份有限公司、北京大学、苏州能讯高能半导体有限公司、中国科学院半导体研究所、中国电子科技集团第十三研究所、北京第三代半导体产业技术创新战略联盟
适应范围
本文件描述了 GaN 毫米波前端芯片(以下简称“GaN 前端芯片”)的测试条件、测试要求和测试方法。
本文件适用于 GaN 前端芯片的测试、质量评价。