GB/T 44075-2024 纳米技术 表面增强拉曼固相基片均匀性测量 拉曼成像分析法
标准编号：GB/T 44075-2024
标准名称：纳米技术 表面增强拉曼固相基片均匀性测量 拉曼成像分析法
英文名称：Nanotechnology—Determination of the uniformity of SERS solid substrate—Raman mapping analysis
中国标准分类号（CCS）
A42
国际标准分类号（ICS）
17.040.20
发布日期
2024-05-28
实施日期
2024-12-01
归口单位
全国纳米技术标准化技术委员会
执行单位
全国纳米技术标准化技术委员会
主管部门
中国科学院
起草人
郭清华、朱建荣、方丹、姜江、王震、姚建林、袁亚仙、席广成、卢荻
起草单位
苏州纳微科技有限公司、苏州大学、中国检验检疫科学研究院、苏州市计量测试院、中国科学院苏州纳米技术与纳米仿生研究所、江苏菲沃泰纳米科技股份有限公司
适应范围
本文件描述了使用拉曼光谱成像分析法测量表面增强拉曼固相基片均匀性的方法，包括方法概要、仪器设备、试剂和材料、测试过程及测试报告等。
本文件适用于SERS固相基片均匀性测量。